1、通常利用TEM观测的分辨率高于SEM。
A、对
B、错
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2、TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。
A、对
B、错
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3、AFM通常用来观测样品表面形貌。
A、对
B、错
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4、XPS只能检测元素种类，无法标定元素含量。
A、对
B、错
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